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華唯Unique 鍍層厚度檢測儀Ux-700

品牌
華唯Unique

型號
Ux-700

◆ 測厚技術:X射線熒光測厚技術;
◆ 測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層;
◆ 測量下限:0.003um;
◆ 測量上限:30-50um(以材料元素判定);
◆ 測量層數:10層;
◆ 測量用時:30-120秒;
◆ 探測器類型:Si-PIN電制冷;
◆ 探測器分辨率:149eV。

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Ux-700

一、概述

  本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業小樣品測試腔的設計,帶有聚焦光點的準直器,高分辨率的探測系統,眾多最佳條件的選擇,保證測試結果的準確性。

  X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。

  Ux-700鍍層測厚檢測儀配備了XY軸微移動平臺,可以通過鼠標的點擊操作,選擇樣品的多點測試,特別適應于細小結構多種不同鍍層材料的測試。

  Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數的攝像設備,測試樣品的部位清楚明了,同時攝像設備拍抓測試部位的圖片,和測試數據結果一同出現在測試報告中。

  Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯最新專利技術FlexFp -Multi,不在受標準樣品的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。

二、鍍層測厚方法

  1.磁性涂層測厚法

  使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。

  2.渦流層層測厚法

  可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度

  3.X射線熒光法

  所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試,同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。

  常用單位:

  微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil)

  1um=39.4邁, 1um=0.04mil

產品指標

  測厚技術:X射線熒光測厚技術

  測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層

  測量下限:0.003um

  測量上限:30-50um(以材料元素判定)

  測量層數:10層

  測量用時:30-120秒

  探測器類型:Si-PIN電制冷

  探測器分辨率:149eV

  高壓范圍:5-50Kv,50W

  X光管參數:5-50Kv,50W,側窗類;

  光管靶材:Mo靶;

  濾光片:專用鍍層濾光片

  CCD觀察:260萬像素

  微移動范圍:XY15mm

  輸入電壓:AC220V,50/60Hz

  測試環境:非真空條件

  數據通訊:USB2.0模式

  準直器:?0.5mm

  軟件方法:FlexFP-Mult

  工作區:開放工作區 自定義

  樣品腔:70*20mm

  整機重量:38kg